消息称三星背面供电芯片测试结果良好 有望提前导入
时间:2025-04-25 03:22:02 来源:

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2 月 29 日消息 ,据韩媒 Chosunbiz 报道 ,三星电子近日在背面供电网络BSPDN)芯片测试中获得了好于预期的成果 ,有望提前导入未来制程节点。传统芯片采用自下而上的制造方式 ,先制造晶体管再建

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